果粉哭哭！外媒爆Apple虽已测试　Touch ID不太可能回归iPhone

近日彭博的一份报告指出，虽然Apple已测试将Touch ID重新增加到iPhone，但近期不太可能真的发生。

IT之家报导，彭博的资深科技记者Gurman在最新一期Power On专栏中表示，Apple已经测试iPhone的萤幕下Touch ID，也考虑过在电源按键上添加Touch ID，类似iPad Air和iPad mini。

然而，尽管Apple已经进行两个测试，但Gurman认为，至少在可预见的未来，这两件事都不太可能见到曙光。

他认为，在过去几年中，Apple内部一直讨论将Touch ID带回高阶的iPhone，该公司已经测试萤幕下Touch ID，甚至考虑将其放在电源按键上。在这一点上，他相信Face ID将继续存在，且Touch ID也不会回归旗舰iPhone上，至少在可预见的未来不会。

Gurman认为，其中一种可能是，Apple将Touch ID移到低阶iPhone的电源键上，例如iPhone SE，类似Apple在iPad的作法，但Gurman说他还没有听到这已经在进行中。

IT之家指出，多年来Face ID已有明显改善，特别是现在已经在萤幕变横也可以使用，也可以戴口罩使用，将Touch ID带回iPhone的必要性似乎已明显降低。

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