随著半导体制程技术迈向2nm，晶圆代工大厂将导入环绕式闸极电晶体（GAAFET）架构，根据官方公布的数据显示，相较于N3E制程，2nm技术将在相同功耗下提供10-15%的性能提升，或在相同性能下降低23-30%的功耗，客户对2nm的兴趣及参与度亦优于3nm量产初期。
电晶体架构的转变是半导体业界的一大挑战，转换到新架构的难度远高于优化现有架构。这一过程需经反复的MA、FA以精确调整材料和制程参数，为半导体检测行业创造了大量商机。GAAFET架构检测服务商机于2022 年已逐步发酵，随著晶圆代工大厂2025年量产时间接近，闳康MA及FA之进案量有望维持高档。
随著传统矽制程逐渐接近物理极限，矽光子技术（Silicon Photonics）逐步成为突破摩尔定律瓶颈的重要技术。矽光子技术将光学元件整合进矽晶片，透过光波导（waveguide）代替铜线来传输讯号，从而显著解决讯号衰减和散热问题，并提高传输速度和能效。这一技术的应用能有效缩小光收发器的尺寸，进而增加交换器的通道数目，成为HPC及AI应用的关键技术。
随著矽光子技术的发展，对半导体检测技术的需求也随之上升，不仅需要确保元件的可靠性，还需深入了解光电性能、材料特性及设计缺陷。二次离子质谱仪（SIMS）在矽光子技术检测中扮演关键角色，其在分析半导体材料的表面和界面特性，尤其是在掺杂和离子植入的研究中，具有高灵敏度和高解析度的优势。闳康在亚洲第三方实验室中具备最大的SIMS产能，且是少数在早期就参与合作的公司，随著矽光子技术逐渐成熟，相关检测分析需求亦将水涨船高。
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